前面所講的激光散射法可以理解為靜態(tài)光散射法。當(dāng)碳化硅微粉顆粒小到一定的程度時(shí)，顆粒在液體中受布朗運(yùn)動(dòng)的影響，呈一種隨機(jī)的運(yùn)動(dòng)狀態(tài)，其運(yùn)動(dòng)距離與運(yùn)動(dòng)速度與顆粒的大小有關(guān)。通過相關(guān)技術(shù)來識(shí)別這些顆粒的運(yùn)動(dòng)狀態(tài)，就可以得到碳化硅粒度分布了。動(dòng)態(tài)光散射法，主要用來測(cè)量納米材料的粒度分布。國外已有現(xiàn)成的儀器，國內(nèi)目前還沒有。

  金蒙新材料公司最常用的碳化硅粒度檢測(cè)法一般都是電阻法和激光法。