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碳化硅器件工藝難點(diǎn)在哪里?

文章出處:啟哥有何妙計(jì)網(wǎng)責(zé)任編輯:作者:陳啟人氣:-發(fā)表時(shí)間:2022-09-14 17:19:00【

襯底片完了之后就是長外延,外延之后就是一系列的光刻,刻蝕,涂膠,沉積,清洗,離子注入等工藝,和硅工藝基本一致,然后就是后道的晶圓切die,封裝測試等,基本流程和硅差不多。

其中長外延,光刻膠,背面退火,刻蝕,以及氧化柵極工藝區(qū)別,歐姆接觸和硅工藝區(qū)別非常大。

硅的外延工藝就是普通的硅外延爐之類價(jià)格也很便宜國產(chǎn)的大約400-500萬一臺(tái)(8英寸的);碳化硅的是特殊的MOCVD/HT-CVD,且價(jià)格非常貴,基本要800-1500萬人民幣一臺(tái),而且產(chǎn)能很低,一臺(tái)爐子一個(gè)月產(chǎn)能是30片。

外延爐主要是國外的愛思強(qiáng),意大利的LPE(被ASM收購),日本的TEL,Nuflare。國內(nèi)有不少公司干這個(gè),類似北方華創(chuàng),中微,以及一些小公司。

PVT法的長的碳化硅晶體天然是N型,沒有P型,但是做外延層就可以調(diào)節(jié)N還是P,以及摻雜濃度(至少硅的外延層就是這樣的)。

之所以要做外延層,道理也很簡單,消除襯底本身的缺陷問題,提高器件良率,其次是根據(jù)不同工藝,需要做不同外延摻雜工藝。

那么對于碳化硅而言,外延之后,能明顯提高良率。外延片質(zhì)量和襯底質(zhì)量有一定的關(guān)系,但是不是絕對100%的關(guān)系,高水平的外延能很大程度上彌補(bǔ)襯底固有缺陷,但是缺陷太多長一層外延也并不解決問題,但是外延長的好確實(shí)降低了器件對襯底的要求。

所以哪怕襯底有這么點(diǎn)瑕疵,外延之后,依然能用!現(xiàn)階段,是有襯底就行了,所以哪怕襯底質(zhì)量有些問題,依然能用,敢用原因就在這里,碳化硅需求太旺盛了。

其次器件是在外延層上,除了IGBT那種垂直穿通型的結(jié)構(gòu),大部分都是在外延層上做的結(jié)構(gòu),襯底甚至還要減薄,剝離,反正有相當(dāng)一部分襯底都要被剝離,有點(diǎn)小問題也所謂,因此外延工藝降低了器件對襯底的要求,至少二極管之類肯定是能用的。

第二,光刻膠與曝光工藝。

我一直以為碳化硅曝光和硅基本一致,后面發(fā)現(xiàn)并不是這樣,還是那個(gè)問題碳化硅有很好的透光性,普通6英寸光刻工藝的硅的光刻膠是完成不了曝光工序的!必須用的是一種特殊光刻膠?干膜光刻膠?具體名稱我叫不上來了,反正和硅肯定不一樣。

第三刻蝕,這里涉及非常復(fù)雜的工藝結(jié)構(gòu)問題,現(xiàn)在玩碳化硅的國際三大家,英飛凌,羅姆,和CREE。

其中CREE主要搞平面型,英飛凌的是非對稱半包結(jié)構(gòu),羅姆是雙/深溝槽結(jié)構(gòu),還有一個(gè)住友整過一個(gè)接地雙掩埋。

之所有英飛凌和羅姆要整這么復(fù)雜的溝槽結(jié)構(gòu),原因很簡單,碳化硅和硅不一樣,摻雜后的擴(kuò)散推結(jié)動(dòng)作異常困難,只能搞挖溝槽。其次,是增加功率/面積比,相比之下溝槽能比平面型降低30%的成本,這招業(yè)內(nèi)俗稱“偷面積”,能偷30%,相當(dāng)可觀了!

顯然CREE平面型的刻蝕工序就不會(huì)很多,但是英飛凌和羅姆都是類似溝槽結(jié)構(gòu),刻蝕工序必然又多又復(fù)雜。

到現(xiàn)在這溝槽結(jié)構(gòu)已經(jīng)異常復(fù)雜,已經(jīng)變成多級溝槽。灑家推測,以后的碳化硅刻蝕設(shè)備不僅僅是一個(gè)臺(tái)ICP刻蝕,應(yīng)該是一臺(tái)ICP-CVD刻蝕設(shè)備,在挖多級溝槽的時(shí)候,一邊挖一邊砌墻,刻蝕與沉積保護(hù)膜同步進(jìn)行。

第四,柵極工藝的問題。

羅姆曾經(jīng)吃過虧,整個(gè)碳化硅一大塊面積都糊了。灑家請教過很多專家,有部分人的認(rèn)為,問題出在氧化柵極上,MOSFET的柵極就是這一層二氧化硅。

相比硅上整一個(gè)二氧化硅柵極,碳化硅上整一個(gè)二氧化硅就不這么簡單了,顯然兩者界面的接觸顯然是不如硅的二氧化硅,因?yàn)樘蓟枥锩嬗刑荚?,如果界面不清晰形成團(tuán)簇,就極容易發(fā)生問題,盡管現(xiàn)在業(yè)內(nèi)過1000小時(shí)的案例比比皆是,但是我始終覺得這是影響碳化硅MOSFET長期可靠的性的一個(gè)大問題,急需新材料和新的薄膜沉積工藝,來解決這些問題。

第五,摻雜問題

碳化硅最煩就是這個(gè)離子注入摻雜問題,因?yàn)樘蓟璧腘型摻雜氮,P型摻雜是鋁。這鋁原子他媽比硅原子和碳原子大太多了,簡直異物插入!因此需要高能粒子注入機(jī),目前只有應(yīng)材和愛發(fā)科有,愛發(fā)科的機(jī)臺(tái)適合小批量生產(chǎn),應(yīng)材的產(chǎn)能更大但是更貴,都300萬美金朝上的價(jià)格,不管愛發(fā)科還是應(yīng)材都是1年半起步的訂貨周期,一臺(tái)設(shè)備就是產(chǎn)能,看誰動(dòng)作快。

硅離子注入機(jī)能改,但是代價(jià)不小,效果一般,建議買新的,這個(gè)錢必須花。

第六,退火

摻雜完了,退火工藝也和硅不一樣,是一個(gè)點(diǎn)一個(gè)點(diǎn)的激光退火!國內(nèi)類似大族的激光設(shè)備是可以用的。

第七,背面歐姆接觸

同理離子注入,半導(dǎo)體與金屬接觸會(huì)形成勢壘,當(dāng)半導(dǎo)體的摻雜濃度很高的時(shí)候電子可以借助“隧穿效應(yīng)”穿過勢壘,從而形成低阻的歐姆接觸,形成良好的歐姆接觸是有利于電流的輸入和輸出,因此選擇什么金屬材料對于碳化硅做歐姆接觸很重要。

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